KLA / TENCOR FLX-5400 is an advanced wafer and mask inspection equipment that combines powerful optics-based defect detection technology, a customizable field of view and a user …

kla/tencor flx-5400是为满足最苛刻的工业需求而设计的线路晶圆测试和计量设备的顶端。该系统具有大尺寸、全彩色、高分辨率的触摸屏,非常直观且用户友好。它具有高度精确、实时的图像 …

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KLA / TENCOR FLX-5400 is an advanced wafer testing equipment designed to provide state-of-the-art wafer inspection and analysis. This system utilizes an advanced optical microscope …

kla/tencor flx-5400は、強力な光学系欠陥検出技術、カスタマイズ可能な視野、および高精度の欠陥検出と画像強化のためのユーザーフレンドリーなインターフェイスを組み合わせた、高度 …

KLA / TENCOR FLX-5400 is a next-generation wafer testing and metrology system for production and R&D applications, capable of simultaneous testing and analyzing a wide variety of wafer …

KLA / TENCOR FLX-5400 vintage. ID # 293765080. Thin film stress measurement system.

KLA FLX-5400 includes a high-resolution imaging machine that can capture data with resolutions up to three microns, making it ideal for a variety of wafer testing and metrology applications.

kla flx-5400は、化合物半導体、iii-v、 soi、 gan、 ge、超薄型ウェーハなど、あらゆる基板上の機能を実質的に測定するように設計されています。100mピッチの普遍的なフラットプラッ …

kla/tencor flx-5400は、高度な光学系、照明サブシステム、パターン認識アルゴリズム、データ解析ツールを通じて、半導体ウェーハの正確かつ正確な欠陥特性評価を可能にする高速、高分 …